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设计名称
对数正态分布下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分
设计编号
A5-052-A0082
设计软件
AutoCAD, Word
包含内容
见右侧图片
说明字数
25000字
图纸数量
见右侧图片
推荐指数
较高
价格:
价格优惠中
整理日期
2013.09.25
整理人
小林
购买流程
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设计简介

文档包括:

说明书一份,28页,25000字左右.
任务书一份
开题报告一份
翻译一份.
程序一份

 


毕业设计题目: 对数正态分布下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析  专   业          机械设计制造及其自动化

一、课题背景、目的、意义
有机电致发光器件(简称OLED,Organic Light Emitting Device),又称有机发光二极管,由光刻电极基板与有机发光材料构成,是通过载流子的注入和复合而致发光的现象。由于其功耗小、驱动电压低、视角宽、响应速度快等特点,被认为是继液晶之后的下一代平板显示器件,自从1987年 C.W. Tang 和VAN Slyke 报道了双层有机电致发光器件(OLED)以来,不管在理论上还是在实验上,人们对OLED的研究已有了飞速的进展。然而OLED的发光材料为有机物,存在着老化,因此其使用寿命成为制约OLED发展的关键因素。目前OLED的平均寿命已超过10000小时。因此,对于一般的寿命试验,在正常工作条件下,需一年以上的时间,在许多情况下,实际上不可能做这种试验,有的试验结果出来后,很可能产品已经更新,失去了试验的意义。因此,迫切需要对OLED进行加速寿命试验,以期在较短时间内精确估计OLED的寿命。
本课题的目的就是利用对数正态分布函数、最小二乘法(LSM)的理论建立白光OLED寿命估计的理论模型。通过已经实现的加大白光OLED的驱动电流开展的两组恒定应力加速寿命试验和一组步进应力加速寿命试验,利用对数正态函数来描述其寿命分布,并对已得到数据利用最小二乘法(LSM)完成了白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。由此锻炼学生独立对问题进行深入分析研究的能力。

二、 课题的主要内容及要求(要求详实、具体、准确)
本课题主要内容分为四个部分
1、 对数正态分布函数的参数设定
理解对数正态分布函数的原理,参数假设。
2、 寿命试验参数的数值分析估计法——最小二乘法
理解最小二乘法估计参数的原理;
学会用最小二乘法估计出对数正态分布函数的参数。
3、 Matlab编程与图形绘制
用Matlab编写寿命预测软件并学会初步使用Matlab绘图。
4、 完成寿命的预测
完成OLED加速寿命试验数据的统计分析以及寿命的预测。
课题要求:具备一定高等数学基础;
有一定编程能力。

三、 成品要求(包括课题主要目标及成果)
1)采用LSM对恒定和步进应力加速寿命试验的数据进行统计分析,完成对数正态分布条件下白光OLED的寿命估计;
2)完成2万字的论文。

四、 课题计划进度
周 次 设计(论文)各阶段内容 日 期
2- 4 明确课题的要求,开题报告的书写 2.27-3.18
5 了解对数正态分布函数,学习初步使用Matlab语言 3.19-3.25
6-7 了解最小二乘法的参数估算方法,编写绪论和前两章 3.26-4.8
8 学习用最小二乘法估算对数正态分布函数的参数 4.9-4.15
9-10 中英文翻译 4.16-4.29
11 建立论文的理论模型,编写第三章 4.30-5.6
12-13 用Matlab编程与绘图  5.7-5.20
14 编写第四章 5.21-5.27
15 根据数据得出相关结论,毕业论文的总结 5.28-6.3
16-17 论文修改,答辩 6.4-6.15

五、 有关资料及参考书目
[1] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2009, 37( 4): 316-320.
[2] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Life prediction for vacuum fluorescent display using maximum likelihood estimation [J]. Journal of Southeast University (English Edition), 2009, 25(2): 189-192.
[3] 顾瑛. 可靠性工程数学[M]. 北京: 电子工业出版社, 2004: 100-102, 113-117, 166-167.
[4] 戴树森, 费鹤良, 王玲玲,等. 可靠性试验及其统计分析[M]. 北京: 国防工业出版社, 1983: 284-301.
[5] 张建平. 真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究[J]. 电子器件, 2005, 28(4): 714-718.
[6] 葛广平. 我国加速寿命试验研究的现状与展望[M]. 数理统计与管理, 2000, 19(1): 25-29.
[7] GB 2689.3-81. 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则[S]. 中华人民共和国国家标准, 1981: 3.
[8] Nelson W. Accelerated Life Testing-step-Stress Models and Data Analyses[J].  IEEE Trans, Reliability, R-29, 1980: 103-108.
[9] 张志华. 加速寿命试验及其统计分析[M]. 北京: 北京工业大学出版社, 2002.
[10] 张建平, 王睿韬. 基于MAM的真空荧光显示器寿命预测[J]. 液晶与显示, 2008, 23(6): 765-770.
[11] 张建平, 王睿韬. 对数正态分布下基于MAM的VFD加速寿命试验研究[J]. 电子器件, 2008, 31(6): 1735-1738.
[12] 陈循, 陶俊勇, 张春华. 可靠性强化试验与加速寿命试验综述[J]. 国防科技大学学报, 2002, 24(6): 29-32.
[13] 袁永波, 连加容, 周翔. 空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响[J]. 电子器件, 2008,  31(1): 25-28.
[14] 常天海, 彭双庆. OLED应用技术的进展[J]. 真空与低温, 2008, 14(2): 115-118.
[15] Kapil Sakariya, Clement K. M. Ng, Peyman Servati, and Arokia Nathan. Accelerated stress testing of a-Si:H pixel circuits for AMOLED displays[J]. IEEE Transactions on Electron Devices,2005,12(52): 2577-2583.
[16] JUAN T. Implementation of a novel system for measuring the lifetime of OLED panels [J]. IEEE Consume Electronics, 2003, 49(1): 1-2.
[17] Kanno H, Hamada Y, Takahashi H. Development of OLED with high stability and luminance efficiency by co-doping methods for full color displays [J]. Selected Topics in Quantum Electronics, IEEE Journal of, 2004, 10(1):30-36.
[18] 许伟. 寿命是目前OLED最大技术难点[N]. 中国电子报, 2008-1-1(8).
[19] 郑亮, 薛唯, 钟生东. 有机电致发光显示及其发展[J]. 现代显示, 2002, 4: 17- 22.


对数正态分布下白光OLED恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析
                    摘要
随着OLED的研究和发展日益广泛,如何快速准确地获得OLED 的寿命信息将变得至关重要。本文通过加大工作电流来建立加速寿命试验模型,采用对数正态分布函数描述了OLED 的寿命分布,利用最小二乘法(LSM) 估计了对数均值和对数标准差,完成了恒定及步进应力试验数据的统计和分析,精确预测出了OLED的平均寿命和中位寿命。数值结果表明,OLED 的寿命服从对数正态分布,其加速模型符合逆幂定律,精确计算的加速参数使得快速估算OLED 寿命成为可能。
关键词: OLED;寿命预测;对数正态分布;LSM

 

STATISICAL ANALYSIS ON CONSTANT- STEP-STRESS ACCELERATED LIFE TEST DATA OF WHITE OLED UNDER LOGNORMAL DISTRIBUTION
ABSTRACT
With the study and development of OLED becoming more and more extensive,how to acquire the life information of OLED accurately and rapidly is very important. Accelerated life test model was established with its working current increased, and the lognormal distribution was applied to describe the life distribution. In addition, the least square method (LSM) was employed to estimate the mean value and the logarithm standard deviation, and the statistics and analysis on constant stress and step stress test data were achieved. Furthermore, the average life and the median life can be predicted. The numerical results show that the OLED life is characterized by lognormal distribution, and the accelerated model meets the inverse power law. The acceleration parameters, which were accurately calculated, enable rapid estimation of OLED life.
Key Words: OLED; Life prediction; Lognormal distribution; LSM

目录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论 1
第二章 OLED介绍 1
2.1 OLED基本背景 1
2.1.1 OLED原理 1
2.1.2 OLED特点 2
2.1.3 OLED显示屏和其他材料的比较优势 2
2.2 OLED分类 3
2.3 OLED制造应用 4
2.3.1 OLED制造方法 4
2.3.2 国内主要OLED企业状况分析 4
2.4 OLED发展概述 5
2.4.1 OLED市场发展 5
2.4.2 OLED技术现状分析 5
2.5 国内外对OLED寿命测试的研究 8
2.6 OLED应用前景 9
2.6.1 OLED在平板显示器中的应用 9
2.6.2 其它潜在应用 10
第三章 加速寿命试验理论模型 10
3.1 加速寿命试验 10
3.1.1 加速寿命试验简介 10
3.1.2 加速寿命试验方法 11
3.1.3 加速寿命试验类型 11
3.2 可靠性概述 11
3.2.1可靠性简介 11
3.2.2可靠性要素 12
3.2.3可靠性研究的重要性 12
3.3 加速寿命试验统计分布及估算方法 13
3.3.1 对数正态分布 13
3.3.2 最小二乘法 14
第四章 试验数据的统计分析及寿命估计 15
4.1 基本假定 15
4.2 恒定应力加速寿命试验数据统计分析 16
4.3 步进应力加速寿命试验数据统计分析 17
4.4 试验数据 17
4.5 恒定应力试验数据处理 18
4.6 加速寿命方程 18
4.7 步进应力试验数据处理 19
4.8 加速参数的修正 20
4.9  K-S检验 20
4.10 OLED寿命预测 20
第五章 结论 21
参考文献 22
致谢 24 

部分图纸
截图
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