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设计名称
Weibull分布下基于LSM的白光OLED恒定应力加速寿命试验数据的统计
设计编号
A55-A0085
设计软件
AutoCAD, Word
包含内容
见右侧图片
说明字数
24000字
图纸数量
见右侧图片
推荐指数
较高
价格:
价格优惠中
整理日期
2013.09.25
整理人
小林
购买流程
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设计简介

文档包括:

说明书一份,27页,24000字左右.
任务书一份
开题报告一份
翻译一份.
程序一份

 


毕业设计题目:  Weibull分布下基于LSM的白光OLED恒定应力加速寿命试验数据的统计分析   专 业    机械设计制造及其自动化

一、课题背景、目的、意义
近年来,随着彩屏手机,平板电视和平板电脑的兴起,平板显示技术已经取得了显著的进步,而OLED是平板显示技术中发展较快的技术。和其他平板显示技术相比,OLED具有主动发光、无需背光源、视角宽、响应快以及亮度高的优点,具有广阔的市场前景。
OLED未来的发展空间有赖于加大在寿命、工作稳定性及显示色彩的丰富性等问题上的研发力度,克服有机显示在技术上的致命缺陷,这是其取代目前液晶显示市场主流地位的必然要求,而其中的寿命问题是其最大的技术难点。寿命特性是影响OLED商业前景的一个重要因素。在过去的十年间,随着业界成功突破了寿命2-3万小时的技术瓶颈,OLED寿命和可靠性显著提高,寿命特性和可靠性估计方法的研究也亟需开展。
本课题基于三组恒定电流应力下的加速寿命可靠性试验得到的白光OLED失效时间数据,采用威布尔(Weibull)分布理论描述其寿命分布,利用 最小二乘法(LSM)和MATLAB编程完成对数据的统计分析,从而快速估计白光OLED寿命,为OLED生产厂家提供有益的技术参考,并由此锻炼学生独立思考问题、解决问题的能力。

 

二、 课题的主要内容及要求(要求详实、具体、准确)
本课题主要内容分为四个部分:
1、 Weibull分布的参数设定
Weibull分布原理的理解,参数假定。
2、 寿命试验参数的数值分析估计法—最小二乘法
理解最小二乘法估计参数的原理;
学会用最小二乘法估计出Weibull分布的参数。
3、 MATLAB软件编程和图形绘制
利用MATLAB软件编制基于最小二乘法和Weibull分布的寿命测试程序并绘制寿命分布图。
4、 完成寿命预测
完成对OLED失效时间数据的统计分析并预测其寿命。
课题要求:具备一定高等数学基础;
有一定编程能力。      

 


三、 成品要求(包括课题主要目标及成果)
1) 采用LSM对恒定加速寿命试验的数据进行统计分析,完成Weibull分布下白光OLED寿命的预测;
2) 完成2万字的论文。

 

四、 课题计划进度
周 次 设计(论文)各阶段内容 日 期
2- 4 明确课题目的要求,发放任务书 2.27-3.18
5 书写并上交开题报告 3.19-3.25
6-7 了解Weibull分布原理 3.26-4.8
8 了解最小二乘法的参数估算方法  4.9-4.15
9-10 学习利用最小二乘法估算Weibull分布的参数 4.16-4.29
11 学习初步使用MATLAB语言 4.30-5.6
12 掌握MATLAB基于最小二乘法和Weibull分布的数据分析程序的编写和图形绘制,中英文翻译 5.7-5.13
13 编写论文前三章包括引言,简介和理论模型 5.14-5.20
14-15 根据数据得到相关结论,进行毕业论文撰写及修改 5.21-6.3
16-17 毕业论文的书写,论文修改、答辩 6.4-6.15

 

五、 有关资料及参考书目
[1] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2009, 37( 4): 316-320.
[2] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Life prediction for vacuum fluorescent display using maximum likelihood estimation [J]. Journal of Southeast University (English Edition), 2009, 25(2): 189-192.
[3] Kapil. Sakariya, Clement. K. M. Ng, Peyman Servati and Arokia Nathan. Accelerated Stress Testing of a-Si:H Pixel Circuits for AMOLED Displays [J]. IEEE T. Electron Dev., 2005, 52(12): 2577-2583.
[4] Sean C. Xia et al., OLED Device operational lifetime: insights and challenges[J]. IEEE 07CH37867 45th Annual international Reliability Physics Symposium Phoenix, 2007, pp. 253-257.
[5] Nelson W. Accelerated life testing-step-stress models and data analyses [J]. IEEE Trans. Reliability, 1980, R-29: 103-108.
[6] Barr D R, Davidson T. A Kolmogorov-Smirnov test for censored samples[J]. Techno metrics, 1973, 15 (4): 739-757.
[7] A. Pinato, M. Meneghini, A. Cester, N. Wrachien, A Tazzoli, E. Zanoni and G. Meneghesso. Improved Reliability of Organic Light-emitting Diodes with Indium-zinc-oxide Anode Contact [C]. Reliability Physics Symposium, 2009 IEEE International.
[8] 茆诗松, 王玲玲. 加速寿命试验[M]. 北京: 科学出版社, 1997.
[9] 张建平. 真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究[J]. 电子器件, 2005, 28(4): 714-718.
[10] 张建平. 基于LSM的红外LED加速寿命试验数据的统计分析[J]. 半导体光电, 2005, 26(2): 92-96.
[11] 冯迪砂, 吴斌. OLED显示技术综述[J]. 2006, 5: 28-30.
[12] 常天海, 彭双庆. OLED应用技术的进展[J]. 真空与低温, 2008, 14(2): 115-118.
[13] 许伟. 寿命是目前OLED最大技术难点[N]. 中国电子报, 2008-1-1(8)
[14] 雷钢铁, 段炼, 王立铎,等.有机电致发光白光器件的研究进展[J]. 发光学报, 2004, 25(3): 221-230.

                
   摘要
近年来,随着彩屏手机,平板电视和平板电脑的兴起,平板显示技术已经取得了显著的进步,而OLED是平板显示技术中发展较快的技术。和其他平板显示技术相比,OLED具有主动发光、无需背光源、视角宽、响应快以及亮度高的优点,具有广阔的市场前景。本文基于三组恒定电流应力下的加速寿命可靠性试验得到的白光OLED失效时间数据,采用威布尔(Weibull)分布理论描述其寿命分布,利用 最小二乘法(LSM)和MATLAB编程完成对数据的统计分析,从而估计了白光OLED寿命,为OLED生产厂家提供有益的技术参考。
关键词:白光OLED;  Weibull分布; 最小二乘法;  寿命预测

 

STATISTICAL ANALYSIS ON CONSTANT-STRESS ACCELERATED LIFE TESTING DATA OF WHITE OLED UNDER WEIBULL DISTRIBUTION BASED ON LSM

ABSTRACT

    In recent years, with the rise of color mobile phones, flat-panel TVs, and tablet PCs, flat panel display technology has made significant progress. The OLED is one kind of flat panel display technologies which been developed rapidly. Compared to other flat panel display technologies,OLED has advantages such as self-luminous, without backlighting, wide viewing angle, fast response and high-brightness, and it has broad market prospects. Based on OLED failure time data obtained by accelerated life reliability tests under three sets of constant current stresses, Weibull theory was used to describe the distribution of OLED life, and least square method (LSM) and MATLAB programming were applied to achieve statistical analysis of data. Life expectancy of white OLED can be estimated, which provides a useful reference for OLED manufacturers.
Key Words: White OLED;  Weibull distribution;  LSM;  Life prediction

 

目  录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论 1
第二章 OLED的介绍 1
2.1 OLED的由来和现状 1
2.2 OLED的结构和原理 3
2.2.1 结构 3
2.2.2 原理 4
2.3 驱动方式分类及全彩化技术 5
2.4 OLED与其它显示技术的性能比较 5
2.5 OLED存在的问题 7
2.6 OLED新技术的研究 7
2.6.1 TMA技术 7
2.6.2 柔性OLED显示技术 8
2.7 OLED未来发展及寿命研究的意义 8
第三章 加速寿命试验的理论模型 9
3.1 可靠性 9
3.1.1 可靠性的概念 10
3.1.2 可靠性指标 11
3.1.3 可靠性的实际应用 13
3.2 加速寿命试验 14
3.2.1加速寿命试验概念 14
3.2.2 加速寿命试验的原理 14
3.2.3 加速寿命试验的类型 15
3.3 加速寿命试验的分布条件及方法 15
3.3.1 威布尔分布 15
3.3.2 最小二乘法 16
第四章 试验数据的统计分析及寿命估计 18
4.1 基本假定 18
4.2 恒定应力加速寿命试验数据统计分析 18
4.3 试验数据 19
4.4 数据处理 20
4.4.1 恒定应力试验数据处理 20
4.4.2 加速寿命方程及其参数 20
4.4.3 分布拟合的K-S检验 21
4.4.4 寿命估计 21
第五章  结   论 21
参考文献 22
致谢 23

部分图纸
截图
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