|
文档包括:
说明书一份,30页,23000字左右.
任务书一份
开题报告一份
翻译一份.
程序一份
毕业设计题目： Weibull分布下基于MAM的白光OLED寿命预测 专 业 机械设计制造及其自动化
一、课题背景、目的、意义
随着有机发光材料和器件技术的不断发展和成熟，凭借高效率、高亮度、宽视角、低功耗、自发光、驱动电压低、响应速度快、全彩色、易制成超薄大面积、材料轻便等优势，有机电致发光器件（OLED显示器，俗称有机发光二极管）得到国际社会特别是产业界和学术界的广泛重视，并逐步进入各个显示领域，目前 OLED已经逐渐拥有电视、MP3播放器、手机、汽车显示器、可弯曲标价牌的市场。自从1987年 C.W. Tang和VAN Slyke报道了双层有机电致发光器件(OLED)以来，不管在理论上还是在实验上，人们对OLED的研究已有了长足的进展。然而，OLED的工作稳定性和寿命仍然是人们普遍关注的问题。在过去的十年间，随着业界成功突破了寿命2-3万小时的技术瓶颈，OLED寿命和可靠性显著提高，寿命特性和可靠性估计方法的研究也亟需开展。
本课题根据三组恒定电流应力下的加速寿命可靠性试验得到的白光OLED失效时间数据，利用威布尔（Weibull）分布理论描述其寿命分布，结合图分析法（MAM）和MATLAB编程完成对数据的统计分析和寿命特征图的绘制，从而使快速预测白光OLED寿命成为可能，为OLED生产厂家提供有益的技术参考，并由此锻炼学生独立思考问题、解决问题的能力。
二、 课题的主要内容及要求（要求详实、具体、准确）
本课题主要内容分为四个部分：
１、 Weibull分布的参数设定
Weibull分布原理的理解，参数假定。
２、 寿命试验参数的数值分析估计法—图分析法
理解图分析法原理；
学会用图分析法估计出Weibull分布的参数。
３、 MATLAB软件编程和图形绘制
利用MATLAB软件编制基于图分析法和Weibull分布的寿命测试程序并绘制Weibull概率双坐标纸并得出寿命特征图。
４、 完成寿命预测
完成对OLED失效时间数据的统计分析并预测其寿命。
课题要求：具备一定高等数学基础；
有一定的编程能力。
三、 成品要求（包括课题主要目标及成果）
1） 采用MAM对恒定加速寿命试验的数据进行统计分析，完成Weibull分布下白光OLED寿命的预测；
2） 完成2万字的论文。
四、 课题计划进度
周 次 设计（论文）各阶段内容 日 期
2- 4 明确课题目的要求，发放任务书 2.27-3.18
5 书写并上交开题报告 3.19-3.25
6-7 了解Weibull分布原理 3.26-4.8
8 了解图分析法原理 4.9-4.15
9-10 学习利用图分析法估算Weibull分布的参数 4.16-4.29
11 学习初步使用MATLAB语言 4.30-5.6
12-13 掌握MATLAB基于图分析法和Weibull分布的数据分析程序的编写和图形绘制，完成中英文翻译 5.7-5.20
14 编写论文前二章包括引言，简介和理论模型 5.21-5.27
15 根据数据得到相关结论，进行毕业论文撰写及修改 5.28-6.3
16-17 毕业论文的书写，论文修改、答辩 6.4-6.15
五、 有关资料及参考书目
[1] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2009, 37( 4): 316-320.
[2] Barr. D. R and Davidson. T. A Kolmogorov-Smirnov Test for Censored Samples [J]. Technometrics, 1973, 15(4): 739-757.
[3] Nelson W. Accelerated life testing-step-stress models and data analyses [J]. IEEE Trans. Reliability, 1980, R-29: 103-108.
[4] Barr D R, Davidson T. A Kolmogorov-Smirnov test for censored samples [J]. Techno metrics, 1973, 15 (4): 739-757.
[5] A. Pinato, M. Meneghini, A. Cester, N. Wrachien, A Tazzoli, E. Zanoni and G. Meneghesso. Improved Reliability of Organic Light-emitting Diodes with Indium-zinc-oxide Anode Contact [C]. Reliability Physics Symposium, 2009 IEEE International.
[6] Bai Ren-ji and Zhao Jie. Electroluminescent devices of small organic molecular and conjugated polymers [J]. Journal of Tianjin Normal University (Natural Science Edition), 2000, 20(2): 45-49.
[7] 茆诗松, 王玲玲. 加速寿命试验 [M]. 北京: 科学出版社, 1997.
[10] 茆诗松. 威布尔分布下的恒加试验的图分析法 [J] . 质量与可靠性, 2003, 5:14-18.
[11] 张建平, 王睿韬. 基于MAM的真空荧光显示器寿命预测 [J]. 液晶与显示, 2008, 23(6): 765-770.
[12] 李瑛, 王文根, 王秀如, 等. OLED显示技术进展 [J] . 现代显示, 2007（2）：12-15.
[13] 常天海, 彭双庆. OLED应用技术的进展 [J]. 真空与低温, 2008, 14(2): 115-118.
[14] 文尚胜, 张剑平. OLED背光源技术研究进展 [J]. 半导体技术, 2011, 36(4): 273-279.
摘要
当今社会OLED的使用日益崛起，已扩展到人们生活的方方面面，如照明，汽车，装饰等，因此准确地对其寿命进行估计是十分必要的，如何能够精确并快速的预测其寿命成为各OLED生产厂家所迫切需要解决的问题。利用威布尔函数来描述其寿命分布，并对已得到的数据利用图分析法（MAM）完成白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。数值结果证实了白光OLED 的寿命服从威布尔分布以及加速寿命方程完全符合逆幂定律。预测寿命所用到的关键性参数可以被精确地计算得出，从而使其在很短的时间内估算出寿命成为可能。
关键词：OLED; 威布尔分布; MAM; 预测寿命
LIFE PREDICTION OF WHITE OLED BASED ON
MAM UNDER WEIBULL DISTRIBUTION
ABSTRACT
OLED is becoming more and more useful in modern society，and it has been expanded to every aspects of people’s daily life，for example，Lighting，Automobile，Ornament and so on. Therefore，it is necessary to estimate the OLED’s life. How to predict OLED life accurately and quickly is becoming an urgent issue for OLED manufacturers to solve. Weibull function was used to describe life distribution, and statically analyze white OLED test data by theory of Map Analysis Method (MAM). The numerical results show that the OLED life satisfies Weibull distribution, and that the accelerated life equation meets completely inverse power law. The key accelerated parameters used for life prediction were calculated precisely，which makes it possible that the OLED life can be estimated in a short time.
Key Words：OLED; Weibull distribution; MAM; Life prediction
目 录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论 1
1.1 OLED的意义和背景 1
1.2 OLED的结构与特性 2
1.2.1 OLED结构 2
1.2.2 OLED优点 2
1.2.3 OLED寿命 3
1.3 OLED国内外发展状况 5
1.4 本文的研究对象和主要内容 6
第二章 加速寿命试验的理论模型 7
2.1 可靠性的意义 7
2.1.1 可靠性的概念 8
2.1.2 可靠性指标 9
2.1.3 可靠性试验概况 12
2.2 加速寿命试验 12
2.2.1 寿命试验 13
2.2.2 加速寿命试验的概念 13
2.2.3 加速寿命试验的类型 14
2.3 常见寿命分布的加速模型 16
2.3.1 指数分布 16
2.3.2 Weibull分布 16
2.3.3 对数正态分布 17
第三章 试验数据的统计及寿命估计 19
3.1 基本假定 19
3.2 Weibull函数参数估计 19
3.3 OLED寿命公式 20
3.4 试验数据 20
3.5 基于MAM的试验数据统计分析 20
3.5.1 绘制Weibull概率双坐标纸 22
3.5.2 恒定应力试验数据计算与分析 22
3.5.3 正常电流应力下的寿命预测 23
第四章 结论 24
参考文献 25
致谢 26
| 
