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设计名称
基于BRM下白光OLED恒定应力加速寿命试验数据的统计分析
设计编号
A58-A0088
设计软件
AutoCAD, Word
包含内容
见右侧图片
说明字数
26000字
图纸数量
见右侧图片
推荐指数
较高
价格:
价格优惠中
整理日期
2013.09.25
整理人
小林
购买流程
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设计简介

文档包括:

说明书一份,27页,26800字左右.
任务书一份
开题报告一份
翻译一份.
程序一份

 


毕业设计题目:  基于BRM下白光OLED恒定应力加速寿命试验数据的统计分析   专 业    机械设计制造及其自动化

一、课题背景、目的、意义
有机电致发光器件(简称OLED,Organic Light Emitting Device),又称有机发光二极管,是一种在电场驱动下,通过载流子注入和复合而导致有机材料发光的显示器件。OLED具有高效率、高亮度、宽视角、低功耗、响应速度快等优点,得到国际社会特别是产业界和学术界的重视,已经逐渐拥有电视、MP3播放器、手机、可弯曲标价牌的市场。然而,OLED产品在商业化的过程中,其可靠性问题也日益受到关注,对于投入市场的有机EL器件要求在连续操作下使用寿命达到10000小时以上,储存寿命要求5年。一般的寿命试验在正常工作条件下需一年以上的时间,在时间和经费上来说已成为企业的沉重负担,因此,迫切需要开展加速寿命试验以期在较短的时间内评估OLED的使用寿命。
本课题的目的就是利用威布尔分布函数、双线性回归法(BRM)的理论建立白光OLED寿命估计的理论模型。通过已经实现的加大白光OLED的驱动电流开展的三组恒定应力加速寿命试验,利用威布尔函数来描述其寿命分布,并对已得到数据利用双线性回归法(BRM)完成了白光OLED加速寿命试验数据的统计分析。由此锻炼学生独立对问题进行深入分析研究的能力。

 

二、 课题的主要内容及要求(要求详实、具体、准确)
本课题主要内容分为四个部分
1、 威布尔分布的参数设定
理解威布尔分布的原理,参数假设。
2、 寿命试验参数的数值分析估计法——双线性回归法
理解双线性回归法估计参数的原理。
学会用双线性回归法估计出威布尔分布的参数。
3、 Matlab编程与图形绘制
用Matlab编写寿命预测软件并学会初步使用Matlab绘图。
4、 完成寿命的预测
完成OLED恒定应力加速寿命试验数据的统计分析以及寿命的预测。
课题要求:具备一定高等数学基础;
有一定编程能力。

 


三、 成品要求(包括课题主要目标及成果)
1)采用BRM对恒定应力加速寿命试验的数据进行统计分析,完成威布尔分布条件下白光OLED的寿命估计;
2)完成2万字的论文。

 


四、 课题计划进度
周 次 设计(论文)各阶段内容 日 期
2- 3 明确课题目的要求,发放任务书 2.27-3.11
4-5 书写并上交开题报告 3.12-3.25
6-7 了解对数正态分布原理 3.26-4.8
8 了解极大似然法原理  4.9-4.15
9-10 学习利用极大似然法估算对数正态分布的参数 4.16-4.29
11 学习初步使用MATLAB语言 4.30-5.6
12 掌握MATLAB基于极大似然法和对数正态分布的数据分析程序的编写和图形绘制,中英文翻译 5.7-5.13
13 编写论文前三章包括引言,简介和理论模型 5.14-5.20
14-15 根据数据得到相关结论,进行毕业论文撰写及修改 5.21-6.3
16-17 毕业论文的书写,论文修改、答辩 6.4-6.15

 

 

五、 有关资料及参考书目
[1] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Reliability life prediction of VFD by constant temperature stress accelerated life tests and maximum likelihood estimation [J]. Journal of Testing and Evaluation, 2009, 37( 4): 316-320.
[2] Zhang Jianping, Wang Ruitao. Life prediction for vacuum fluorescent display using maximum likelihood estimation [J]. Journal of Southeast University (English Edition), 2009, 25(2): 189-192.
[3] 顾瑛. 可靠性工程数学[M]. 北京: 电子工业出版社, 2004: 100-102, 113-117, 166-167.
[4] 戴树森, 费鹤良, 王玲玲, 等. 可靠性试验及其统计分析[M]. 北京: 国防工业出版社, 1983: 284-301.
[5] 张建平. 真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究[J]. 电子器件, 2005, 28(4): 714-718.
[6] 葛广平. 我国加速寿命试验研究的现状与展望[M]. 数理统计与管理, 2000, 19(1): 25-29.
[7] GB 2689.3-81. 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则[S]. 中华人民共和国国家标准, 1981: 3.
[8] Nelson W. Accelerated Life Testing-step-Stress Models and Data Analyses[J].  IEEE Trans, Reliability, R-29, 1980: 103-108.
[9] 张志华. 加速寿命试验及其统计分析[M]. 北京: 北京工业大学出版社, 2002.
[10] 张建平, 王睿韬. 基于MAM的真空荧光显示器寿命预测[J]. 液晶与显示, 2008, 23(6): 765-770.
[11] 张建平, 王睿韬. 对数正态分布下基于MAM的VFD加速寿命试验研究[J]. 电子器件, 2008, 31(6): 1735-1738.
[12] 陈循, 陶俊勇, 张春华. 可靠性强化试验与加速寿命试验综述[J]. 国防科技大学学报, 2002, 24(6): 29-32.
[13] 袁永波, 连加容, 周翔. 空穴阻挡层对有机发光二极管寿命的影响[J]. 电子器件, 2008,  31(1): 25-28.
[14] 常天海, 彭双庆. OLED应用技术的进展[J]. 真空与低温, 2008, 14(2): 115-118.
[15] Kapil Sakariya, Clement K. M. Ng, Peyman Servati, and Arokia Nathan. Accelerated stress testing of a-Si:H pixel circuits for AMOLED displays[J]. IEEE Transactions on Electron Devices,2005,12(52): 2577-2583.
[16] JUAN T. Implementation of a novel system for measuring the lifetime of OLED panels [J]. IEEE Consume Electronics, 2003, 49(1): 1-2.
[17] 张志林, 蒋学茵, 张步新, 等. 多色有机薄膜电致发光及其稳定性[J]. 发光学报, 2000, 21(4): 308.
[18] Jiang X Y, Zhang Z L, Zhao W M, et al. White light-emitting organic diode with a doped blocking layer between hole and electron transporting layer [J]. J Phys D: Appl Phys, 2000, 33: 473.
[19] 李晓峰, 朱文清, 曹进, 等. 多层白色有机发光器件的结构和性能优化[J]. 光电子?激光, 2008, 19(9): 1166-1169.

 

 摘  要

利用三组恒定应力加速寿命试验数据来取得白光OLED的寿命信息。采用三参数威布尔函数描述了白光OLED的寿命分布,并使用双线性回归法(BRM)估计形状参数和尺度参数,然后对白光 OLED寿命是否符合威布尔分布进行了Kolmogorov-Smirnov检验。数值结果表明,OLED的寿命服从威布尔分布,精确计算得到的加速参数使快速估算OLED 寿命成为了可能。
关键词:OLED;威布尔分布;寿命预测;双线性回归法
 

STATISTICAL ANALYSIS ON CONSTANT-STRESS ACCELERATED LIFE TESTING DATA OF WHITE OLED BASED ON BRM
ABSTRACT

Data of three accelerated life tests at constant current stresses was used to get the life information of white OLED. The three-parameter Weibull distribution function was applied to describe the life distribution, and Bilinear Regression Method (BRM) was employed to estimate the shape parameter and scale parameter. The Kolmogorov-Smirnov test was performed to verify whether White OLED life meets Weibull distribution or not. The numerical results show that White OLED life follows Weibull Distribution, and the accurate acceleration parameters enable rapid estimation of the White OLED life.
Keywords: OLED; Weibull distribution; Life prediction; BRM

 


目录
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论--------------------------------------------------------------------------------1
1.1 白光OLED的发展背景---------------------------------------------------1
1.2 OLED的特点----------------------------------------------------------------1
1.2.1 OLED的结构和工作原理------------------------------------------------2
1.2.2单一聚合物白光OLED--------------------------------------------------3
1.2.3 OLED材料及其对寿命的影响---------------------------------------------3
1.3 白光OLED器件的性能指标-------------------------------------------------4
1.3.1 寿命-------------------------------------------------------------------------4
1.3.2 效率-------------------------------------------------------------------------5
1.3.3 显色指数、色温-----------------------------------------------------------6
1.4 国内外OLED应用与发展----------------------------------------------------------6
1.5研究白光OLED寿命的意义----------------------------------------------------8
第二章 可靠性概述--------------------------------------------------------------------9
2.1 可靠性介绍-----------------------------------------------------------------------9
2.1.1 可靠性和故障----------------------------------------------------------9
2.1.2 可靠性三要素----------------------------------------------------------10
2.1.3 可靠性评价-------------------------------------------------------------10
2.2 可靠性研究的意义-------------------------------------------------------------10
2.3 可靠性基本参数-------------------------------------------------------------------12
2.4 OLED与LED电子产品的可靠性--------------------------------------------13
第三章 OLED加速寿命试验理论模型----------------------------------------------------14
3.1 威布尔寿命分布-------------------------------------------------------------------14
3.2 加速寿命试验模型-------------------------------------------------------------14
3.3 加速寿命试验的类型------------------------------------------------------15
3.4 双线性回归方法-----------------------------------------------------------17
3.5寿命计算公式-----------------------------------------------------------18
第四章 试验数据的统计分析及寿命估计------------------------------------------------19
4.1试验数据------------------------------------------------------------------19
4.2 威布尔参数估计------------------------------------------------------------19
4.3 加速寿命方程---------------------------------------------------------------19
4.4 分布拟合的校验----------------------------------------------------------------20
4.5 正常应力下的寿命预测----------------------------------------------20
第五章 结论------------------------------------------------------------------------------------20
参考文献---------------------------------------------------------------------------------------21
致谢------------------------------------------------------------------------------------------------------------23

 

部分图纸
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