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Word版说明书1份,共62页,约24000字
CAD版本图纸,共20张
力学性能是评价材料质量的主要指标,也是进行设计与计算的重要依据,其测试技术的研究与相应仪器的研制是科学界的热点课题。
随时代进步,材料特征尺寸的减小,仅通过试样表面微小形变得到材料硬度、弹性模量等力学参数的微纳米压痕测试技术应运而生,并以其应用范围广、测试内容丰富、试样制备简单、操作方便的优势而发展成为主流。考虑到温度对材料性能的影响十分显著,为降低生产事故和损失,用材料在真实服役条件下的性能参数指导生产才有意义,为此发展了变温微纳米压痕测试技术。
综合以上考虑,本毕设要研制一台集精密驱动、检测、定位、温控、计算机闭环测控等技术为一体的低温微纳米压痕测试仪。
绪论详细介绍了研究背景和压痕测试的国内外进展,并结合商业化压痕测试仪提出了本设计的重点难点;结合压痕测试原理给出了仪器的方案设计,在方案可行性分析的基础上,明确了单片机驱动半导体制冷的工作方案,并结合设计难点,重点讨论了温控模块的布局,提出加设电阻丝、隔热套减弱温漂,使用旋转偏心载物台等创新方案;在此基础上,设计出整机结构,并建立三维 CATIA 模型,说明装置工作原理,给出了仪器主要机械元件的设计分析过程;针对测试仪器的关键技术——低温控制模块,给出了详细的单片机 PID 温度控制电路设计过程及电器元件的选型。通过配置制冷箱,实现室温至-50℃左右的低温微纳米压痕测试。
关键词:
微纳米压痕测试 半导体制冷 力学性能 单片机温度控制 精密驱动
目 录
第 1 章 绪论 .............................................................................................................. 1
1.1 研究背景......................................................................................................... 1
1.2 问题提出......................................................................................................... 1
1.3 毕设任务......................................................................................................... 2
1.4 变温微纳米压痕测试技术............................................................................. 2
1.5 国内外研究进展............................................................................................. 3
1.5.1 国外研究进展...................................................................................... 3
1.5.2 国内研究进展...................................................................................... 8
1.6 论文研究的重点难点..................................................................................... 9
1.7 本章小结......................................................................................................... 9
第 2 章 微纳米压痕测试的分析方法与测试仪器的方案设计................................ 11
2.1 微纳米压痕测试技术和测试仪器简介....................................................... 11
2.1.1 微纳米压痕测试技术........................................................................ 11
2.1.2 微纳米压痕测试仪器........................................................................ 11
2.2 微纳米压痕测试的经典分析方法............................................................... 12
2.3 测试仪器的方案设计................................................................................... 16
2.3.1 制冷方法的选择................................................................................ 16
2.3.2 半导体制冷材料简介........................................................................ 17
2.3.3 温控模块的布局................................................................................ 17
2.4 本章小结....................................................................................................... 19
第 3 章 低温微纳米压痕测试仪的设计分析............................................................ 20
3.1 测试仪器的整体设计................................................................................... 20
3.2 测试仪器的工作原理................................................................................... 21
3.3 测试仪器主要机械元件的设计分析........................................................... 23
3.3.1 基础支撑模块.................................................................................... 23
3.3.2 水平/竖直运动定位模块.................................................................. 23
3.3.2.1 伺服电机的选型校核............................................................. 24
3.3.2.2 丝杠的校核计算..................................................................... 27
3.3.2.3 导轨的设计计算..................................................................... 30
3.3.3 精密驱动模块.................................................................................... 32
3.3.3.1 压电叠堆................................................................................. 33
3.3.3.2 柔性铰链................................................................................. 33
3.3.4 精密检测模块.................................................................................... 36
3.3.5 温度控制模块.................................................................................... 38
3.3.6 计算机测控模块................................................................................ 38
3.4 本章小结....................................................................................................... 38
第 4 章 测试仪器温控模块电器元件的选型与电路设计........................................ 40
4.1 单片机温控电路系统框图........................................................................... 40
4.2 温控电路的工作原理................................................................................... 40
4.3 温控电路主要电器元件的选型设计........................................................... 41
4.3.1 单片机的选型.................................................................................... 41
4.3.2 模数转换器的选型............................................................................ 42
4.3.3 键盘与显示方案的确定 42
4.3.4 温度传感器的选型 43
4.3.5 信号放大器的选型 43
4.3.6 稳压器的选型 45
4.3.7 半导体制冷芯片的选型 46
4.3.8 地址锁存器、数据存储器扩展芯片的选型 47
4.3.9 上、下位机连接芯片的选型 48
4.4 本章小结 48
第 5 章 结论与改进 49
5.1 结论 49
5.2 改进 49
致谢 51
参考文献 52
附录 54
A. CATIA 三维模型 54
B. 单片机温度控制电路原理图 56
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